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显微分光光度计

紫外-可见-近红外(200-2500nm) 微小样品或样品的微小区域的光谱和色度分析 1、透射光谱/成像 2、反射光谱/成像 3、荧光光谱/成像 4、磷光光谱/成像 5、偏振光谱/成像 6、拉曼光谱

服务热线:

021-6208 3715

        美国CRAIC 20/30 PV显微分光光度计,是CRAIC公司的新型号,集成了紫外-可见-近红外光谱仪、拉曼光谱仪、成像系统于一身,根据产品不同,可以做紫外-可见-近红外(200-2500nm)的光谱分析,还可以集成显微拉曼系统,同时科研级光谱仪和高分辨彩色数字成像系统都使用了先进的显微镜光路系统及科研级光学接口。结合显微学和光谱学的优势,用于微小样品或样品的微小区域的光谱和色度分析,并通过对样品的反射、透射、荧光及偏振光谱、拉曼测量,完成微量物样分析。具有科研级高分辨探测器(CCD),半导体制冷探测器,增强稳定性;科研级光学接口,高分辨彩色成像系统。应用软件使用简单,操作方便。
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       开创性20/30 PV系列显微微分光度计为全光谱显微谱学设立了新的标准。具有前沿科技水平的20/30 PV系列可在样品采样区域进行吸收、透射、反射、荧光以及拉曼等光谱数据采集和成像。光谱范围从紫外到近红外,具有自动化控制的光谱和图像分析软件,拥有自动化、简便性和长时间稳定性的特性。20/30 PV系列可应用的领域包括材料科学、工业显微观测、法医痕迹鉴证、生物样品分析测试等。

      高灵敏度固体阵列探测器使用热电冷却,具有较高的信噪比和长时间稳定性。高分辨数字成像系统通过CCD收集深紫外和近红外照射后样品的高分辨彩色图像。完善而强大的软件功能不仅控制显微镜、光度计和数字成像,还能提供先进的分析处理能力,如薄膜厚度测量等。
 

测量结果:
1、透射光谱/成像                
2、反射光谱/成像                                      
3、荧光光谱/成像                                   
4、磷光光谱/成像                                    
5、偏振光谱/成像                                           
6、拉曼光谱                                               
7、膜厚测量、色度测量、折射率测量


主要参数:

光谱范围200-2500nm
成像深紫外到近红外
荧光光谱范围300-1000nm
荧光激发250-546nm
采样面积1-100um
光谱分辨率1-15nm可调
检测器CCD、InGaAs
检测器制冷热电
扫描时间(全光谱)4ms

 
Apollo II 拉曼显微光谱

激发源
波长(nm)405、532、638、785、830
带宽<0.02nm
输出功率50-100mW
光谱仪
光谱范围50-3000cm-1
光谱分辨率10cm-1
采样区域1um(10X@785nm)

                                                        
主要特点

  • 稳定、可靠、高性能

  • 紫外-可见-红外 吸收、反射、荧光光谱及成像

  • 可集成1-3个激发源

  • 可升级共聚焦显微镜

  • 可选高空间分辨率拉曼光谱Mapping

  • 可选拉曼动态显微镜

  • 提供NIST可追溯样品

点击了解该产品的应用

• 司法鉴定  》

• 司法鉴定(文件签署鉴定)  》

• 在钙钛矿研究的应用  》

• 在测定石油源岩的热成熟度的应用  》

本资料仅供参考,为不断提高产品性能,本网站中所有图片及性能参数如有改动,恕不另行通知,敬请谅解!本公司保留对所有技术参数和图片的**终解释权。

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