霍尔效应测试仪系统详细介绍

霍尔效应测试仪系统详细介绍

霍尔效应测试仪用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数。必须事先控制这些参数，以了解半导体材料的电特性。因此，它是理解和研究半导体器件和半导体材料的电学性质的必要工具。

该仪器是一种性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪器。它在国内大学、研究机构和半导体行业拥有广泛的用户和知名度。该仪器轻便、方便、携带方便。它主要用于测量电子材料的重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，无论是薄膜还是固体材料。

霍尔效应测试仪产品概述：

霍尔效应测试仪系统由电磁铁、高精度电源、高斯表、高精度恒流源、高精度电压表、霍尔探头、电缆、标准样品、样品安装架和系统软件组成。专为该仪器系统开发的JH10效应仪集成了恒流源、六位半微伏计和霍尔测量复合正切矩阵开关，大大减少了实验的连接和操作。JH10可单独用作恒流源和微伏表。用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数。必须事先控制这些参数，以了解半导体材料的电特性。因此，霍尔效应测试系统是了解和研究半导体器件和半导体材料电特性的必要工具。实验结果由软件自动计算，可同时获得体载流子浓度、片载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、磁阻等。技术指标：

*磁场：10毫米间距10700高斯，20毫米间距7000高斯。*样品电流：50nA~50mA（*小可调电流为0.1nA）*测量电压：0.1uV~30V*提供各种测试标准材料和各级霍尔器件（具有不同的灵敏度和精度）*小分辨率：1GS*磁场范围：0-±1T*配合高斯计或数据采集板与计算机通信*I-V曲线和I-R曲线的测量电阻率范围：10-7~1012 Ohm*cm*电阻范围：10 m Ohms ~ 6MOhms*载流子浓度：103~1023cm-3*迁移率：0.1~108cm2/伏*秒*全自动测试，一键处理*专业欧姆接触组合套件。

设置控制电流、磁场和霍尔厚度，单击“开始测试”按钮，软件将完成一键测试过程，直到计算出所有霍尔参数。每次测试后，您可以选择保存计算值，然后单击“除显示”按钮进入下一个测试。

如果磁场保持不变，控制电流改变，则可以通过绘图观察is和VH之间的关系；如果控制电流保持不变并且磁场改变，则可以通过绘图来观察B和VH之间的关系。